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當前位置:首頁   >  產品中心  >  種子檢驗儀器  >  其它  >  TPKZ-1玉米考種及千粒重自動分析儀

玉米考種及千粒重自動分析儀

簡要描述:玉米考種及千粒重自動分析儀又叫玉米考種系統、自動種子考種分析及千粒重儀系統,主要用于專業玉米籽粒、果穗、截面的精確考種以及出苗數、整齊度、均勻度分析。

  • 產品型號:TPKZ-1
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-04-23
  • 訪  問  量:3862

詳細介紹

玉米考種及千粒重自動分析儀用途:
玉米考種及千粒重自動分析儀專業玉米籽粒、果穗、截面的精確考種以及出苗數、整齊度、均勻度分析。

功能特點:
籽粒分析:粒數,粒長,粒寬,粒型,均勻度,平均粒長,平均粒寬,有胚尖粒數,面積,周長,直徑,長寬比例,圓度,千粒重等;
截面分析:籽粒行數,軸粗,粒長,粒寬。可一次性自動測量至少15個截面。
整穗分析:果穗長度,穗粗,禿尖長,穗型,左右穗緣角,穗行角,平均粒高(厚),每粒玉米的高度(厚)。穗行數、穗粒數、可自動獲得至少五個果穗平均分析值。
其他分析:千粒重,百粒重,籽粒產量。


分析特色:

玉米籽粒分析

可測粒數、粒長、粒寬。胚尖不明顯的籽粒不測定長寬,種子的長寬zui后以有胚尖的種子長寬平均計算。能自動過濾掉胚尖不明顯的籽粒。

玉米整穗分析

可以自動獲得穗長、穗粗、禿尖長(其位置可編輯調整)、左右穗、緣角、穗行角、平均粒高(厚) ,包括所測的每粒寬度、粒色(種子顏色的 R、G、B 值)等。每粒玉米的高度(厚)可以鼠標滾輪來方便地調節修正。選配 A3 掃描儀,可自動獲得 5 個果穗的平均分析值。

玉米截面分析

可以自動獲得籽粒行數、穗粗、軸粗,以及截面上的平均粒長、平均粒寬參數。其中,籽粒行數=果穗中部截面圖一圈的籽粒數量;穗粗=果穗外接圓的直徑;軸粗=軸線圓的直徑;粒長=(果穗外接圓的直徑-胚尖位置線圓直徑)/2;粒寬=(果穗外接圓周長+胚尖位置線圓周長)/2/籽粒排數。


其他育種信息化設備:          
育種過程管理系統平臺
種質資源庫管理系統
育種小區遠程監控系統
育種信息移動采集終端        
考種系統(玉米、水稻、小麥、油菜)                    
麥穗形態測量儀
水稻劍葉夾角測量儀      
油菜分支角測量儀
作物冠層溫度測量儀          
植物光合/呼吸/蒸騰測量系統
冠層NDVI測定儀





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